Die Norm IEC 61189-2-805-ed.1.0 18.4.2024 Ansicht

IEC 61189-2-805-ed.1.0

Test methods for electrical materials, printed boards and other interconnection structures and assemblies - Part 2-805: X/Y CTE test for thin base materials by TMA

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NORM herausgegeben am 18.4.2024


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis51.50 ohne MWS
51.50

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 61189-2-805-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 18.4.2024
SKU: NS-1182408
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Kategorie - ähnliche Normen:

Printed circuits and boards

Die Annotation des Normtextes IEC 61189-2-805-ed.1.0 :

IEC 61189-2-805:2024 defines the method to be followed for the determination of the X/Y coefficient of thermal expansion of thin electrical insulating materials via the use of a thermomechanical analyser (TMA). This method is applicable to materials that are solid for the entire range of temperature used, and that retain sufficient rigidity over the temperature range so that so that irreversible indentation of the specimen by the sensing probe does not occur. L’IEC 61189-2-805:2024 definit la methode a suivre pour la determination du coefficient de dilatation thermique X/Y de materiaux isolants electriques minces par l’utilisation d’un analyseur thermomecanique (TMA, thermomechanical analyser). Cette methode est applicable aux materiaux qui sont solides sur toute la plage de temperatures utilisee et qui conservent une rigidite suffisante sur toute la plage de temperatures, de telle sorte quune indentation irreversible du specimen par la sonde de detection ne se produise pas.

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