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Superconductivity - Part 15: Electronic characteristic measurements - Intrinsic surface impedance of superconductor films at microwave frequencies
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Supraleitfähigkeit - Teil 15: Messung der elektronischen Eigenschaften - Oberflächenimpedanz von Supraleiterfilmen bei Mikrowellenfrequenzen
NORM herausgegeben am 24.10.2011
Bezeichnung normen: IEC 61788-15-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 24.10.2011
SKU: NS-413731
Zahl der Seiten: 96
Gewicht ca.: 319 g (0.70 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Measurement of electrical and magnetic quantitiesConducting materials
IEC 61788-15:2011 describes measurements of the intrinsic surface impedance (Zs) of HTS films at microwave frequencies by a modified two-resonance mode dielectric resonator method. The object of measurement is to obtain the temperature dependence of the intrinsic Zs at the resonant frequency f0. La CEI 61788-15:2011 decrit les mesures de limpedance de surface intrinseque (Zs) des films HTS aux frequences micro-ondes par une methode modifiee du resonateur dielectriques en mode deux resonances. Lobjet de la mesure est dobtenir la dependance de limpedance intrinseque Zs vis-a-vis de la temperature a la frequence de resonance f0.
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Letzte Aktualisierung: 2025-08-26 (Zahl der Positionen: 2 213 294)
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