Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC 61788-17-ed.2.0
Superconductivity - Part 17: Electronic characteristic measurements - Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 28.4.2021
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 61788-17-ed.2.0
Ausgabedatum normen: 28.4.2021
SKU: NS-1023488
Zahl der Seiten: 41
Gewicht ca.: 123 g (0.27 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Measurement of electrical and magnetic quantitiesConducting materials
Die Annotation des Normtextes IEC 61788-17-ed.2.0 :
IEC 61788-17:2021 specifies the measurements of the local critical current density (Jc) and its distribution in large-area high-temperature superconducting (HTS) films by an inductive method using third-harmonic voltages. The most important consideration for precise measurements is to determine Jc at liquid nitrogen temperatures by an electric-field criterion and obtain current-voltage characteristics from its frequency dependence. Although it is possible to measure Jc in applied DC magnetic fields [20] [21], the scope of this document is limited to the measurement without DC magnetic fields. This technique intrinsically measures the critical sheet current that is the product of Jc and the film thickness d. The range and measurement resolution for Jcd of HTS films are as follows. - Jcd: from 200 A/m to 32 kA/m (based on results, not limitation). - Measurement resolution: 100 A/m (based on results, not limitation).
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
