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IEC 61967-6-ed.1.0
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
Automatische name übersetzung:
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Emissionen, 150 kHz bis 1 GHz - Teil 6: Messung der leitungsgebundenen Emissionen - Magnetsondenverfahren
NORM herausgegeben am 25.6.2002
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 61967-6-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 25.6.2002
SKU: NS-413960
Zahl der Seiten: 51
Gewicht ca.: 153 g (0.34 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 61967-6-ed.1.0 :
Specifies a method for evaluating RF currents on the pins of an integrated circuit (IC) by means of non-contact current measurement using a miniature magnetic probe. This method is capable of measuring the RF currents generated by the IC over a frequency range of 0,15 MHz to 1 000 MHz. The contents of the corrigendum of August 2010 have been included in this copy. Specifie une methode pour levaluation des courants RF sur les broches dun circuit integre par la mesure du courant sans contact en utilisant une sonde magnetique miniature. Cette methode permet de mesurer les courants RF generes par le circuit integre (CI) dans une plage de frequences allant de 0,15 MHz a 1 000 MHz. Le contenu du corrigendum daout 2010 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.
Zugehörige Änderungen zu dieser Norm:
IEC 61967-6-ed.1.0/Amd.1
Änderung
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Amendment 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
(Amendement 1 - Circuits integres - Mesure des emissions electromagnetiques, 150 kHz a 1 GHz - Partie 6: Mesure des emissions conduites - Methode de la sonde magnetique)
Änderung herausgegeben am 12.3.2008
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
Zugehörige Korrekturen zu dieser Norm:
IEC 61967-6-ed.1.0/Cor.1
Korrektur
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Corrigendum 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
(Corrigendum 1 - Circuits integres - Mesure des emissions electromagnetiques, 150 kHz a 1 GHz - Partie 6: Mesure des emissions conduites - Methode de la sonde magnetique)
Korrektur herausgegeben am 30.8.2010
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
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