Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC 62047-34-ed.1.0
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 5.4.2019
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 62047-34-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 5.4.2019
SKU: NS-945688
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Other semiconductor devicesPiezoelectric and dielectric devices
Die Annotation des Normtextes IEC 62047-34-ed.1.0 :
IEC 62047-34:2019 (E) describes test conditions and test methods of electric character, static performances and thermal performances for MEMS pressure-sensitive devices. This document applies to test for both open and closed loop piezoresistive MEMS pressure devices on wafer.
Empfehlungen:
EEviZak – alle Gesetze einschließlich ihrer Evidenz in einer Stelle
Bereitstellung von aktuellen Informationen über legislative Vorschriften in der Sammlung der Gesetze bis zum Jahr 1945.
Aktualisierung 2x pro Monat!
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
