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Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method
Automatische name übersetzung:
Integrierte Schaltungen - Messung der Impuls Störfestigkeit - Teil 3: Nichtsynchron transiente Injektionsverfahren
NORM herausgegeben am 17.7.2013
Bezeichnung normen: IEC 62215-3-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 17.7.2013
SKU: NS-414300
Zahl der Seiten: 66
Gewicht ca.: 198 g (0.44 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC 62215-3:2013 specifies a method for measuring the immunity of an integrated circuit (IC) to standardized conducted electrical transient disturbances. The disturbances, not necessarily synchronized to the operation of the device under test (DUT), are applied to the IC pins via coupling networks. This method enables understanding and classification of interaction between conducted transient disturbances and performance degradation induced in ICs regardless of transients within or beyond the specified operating voltage range. La CEI 62215-3:2013 specifie une methode pour mesurer limmunite dun circuit integre (CI) aux perturbations transitoires electriques conduites normalisees. Les perturbations, non necessairement synchronisees sur le fonctionnement du dispositif en essai (DUT, device under test), sont appliquees aux broches du circuit integre via des reseaux de couplage. Cette methode permet de comprendre et de classer les interactions entre des perturbations transitoires conduites et la degradation de fonctionnement induite dans les circuits integres independamment des transitoires a linterieur ou au-dela de la gamme de tensions de fonctionnement specifiees.
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Letzte Aktualisierung: 2025-07-14 (Zahl der Positionen: 2 208 183)
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