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Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 2: LIN transceivers
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NORM herausgegeben am 18.11.2016
Bezeichnung normen: IEC 62228-2-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 18.11.2016
SKU: NS-673107
Zahl der Seiten: 85
Gewicht ca.: 286 g (0.63 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC 62228-2:2016 specifies test and measurement methods for EMC evaluation of LIN transceiver ICs under network condition. It defines test configurations, test conditions, test signals, failure criteria, test procedures, test setups and test boards. It is applicable for standard LIN transceiver ICs and ICs with embedded LIN transceiver and covers: - the emission of RF disturbances, - the immunity against RF disturbances, - the immunity against impulses and - the immunity against electrostatic discharges (ESD). LIEC 62228-2:2016 specifie les methodes dessai et de mesure pour levaluation de la compatibilite electromagnetique (CEM) des circuits integres emetteurs-recepteurs LIN places en reseau. Il definit les configurations dessai, les conditions dessai, les signaux dessai, les criteres de defaillance, les modes operatoires dessai, les dispositions dessai et les cartes dessai. Il sapplique aux circuits integres emetteurs-recepteurs LIN standard et aux circuits integres avec emetteur-recepteur LIN integre, et couvre: - lemission de perturbations radioelectriques; - limmunite aux perturbations radioelectriques; - limmunite aux transitoires electriques; - limmunite aux decharges electrostatiques (DES).
Letzte Aktualisierung: 2025-07-14 (Zahl der Positionen: 2 208 183)
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