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IEC 62374-1-ed.1.0
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Zeitabhängige dielektrische Durchschlag (TDDB) Test für Intermetallschichten
NORM herausgegeben am 29.9.2010
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 62374-1-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 29.9.2010
SKU: NS-414554
Zahl der Seiten: 32
Gewicht ca.: 96 g (0.21 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 62374-1-ed.1.0 :
IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices. La CEI 62374-1:2010 decrit une methode dessai, une structure dessai et une methode destimation de la duree de vie dun essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour des couches intermetalliques appliquees dans des dispositifs a semiconducteurs.
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