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IEC 62525-ed.1.0
Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data
Automatische name übersetzung:
Standard Test Interface Language (STIL) für Digital Testvektor-Daten
NORM herausgegeben am 7.11.2007
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 62525-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 7.11.2007
SKU: NS-414728
Zahl der Seiten: 143
Gewicht ca.: 460 g (1.01 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Industrial automation systems in generalElectrical and electronic testing
Die Annotation des Normtextes IEC 62525-ed.1.0 :
Defines a test description language that: Facilitates the transfer of large volumes of digital test vector data from CAE environments to automated test equipment ATE environments; Specifies pattern, format, and timing information sufficient to define the application of digital test vectors to a device under test (DUT); Supports the volume of test vector data generated from structured tests such as scan/automatic test pattern generation (ATPG), integral test techniques such as built-in self test (BIST), and functional test specifications for IC designs and their assemblies, in a format optimized for application in ATE environments.
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