Die Norm IEC 62526-ed.1.0 7.11.2007 Ansicht

IEC 62526-ed.1.0

Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments

Automatische name übersetzung:

Standard für Erweiterungen zu Standard Test Interface Language (STIL) zum Entwurf Umgebungen



NORM herausgegeben am 7.11.2007


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis526.40 ohne MWS
526.40

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC 62526-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 7.11.2007
SKU: NS-414729
Zahl der Seiten: 123
Gewicht ca.: 400 g (0.88 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Kategorie - ähnliche Normen:

Industrial automation systems in general

Die Annotation des Normtextes IEC 62526-ed.1.0 :

Provides an interface between digital test generation tools and test equipment. A test description language is defined that:(a) facilitates the transfer of digital test vector data from CAE to ATE environments;(b) specifies patten, format, and timing information sufficant to define the application of digital test vectors to a DUT;and (c) supports the volume of test vector data generated from structured tests.

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