Die Norm IEC/TS 61945-ed.1.0 10.3.2000 Ansicht

IEC/TS 61945-ed.1.0

Interated circuits - Manufacturing line approval - Methodology for technology and failure analysis

Automatische name übersetzung:

Interated Schaltungen - Fertigungslinie Zulassung - Methodik für Technologie und Fehleranalyse



NORM herausgegeben am 10.3.2000


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis51.30 ohne MWS
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC/TS 61945-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 10.3.2000
SKU: NS-408086
Zahl der Seiten: 23
Gewicht ca.: 69 g (0.15 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

Kategorie - ähnliche Normen:

Integrated circuits. Microelectronics

Die Annotation des Normtextes IEC/TS 61945-ed.1.0 :

Gives the methodology for technology and failure analysis in manufacturing integrated circuits. Technology analysis is used to determine the way a component is built by observing it using adequate resolution, which increases progressively with the level of analysis. Decrit la methodologie danalyse technologique et de defaillance au cours de la fabrication des circuits integres. Lanalyse technologique a pour but de determiner la constitution dun composant par des observations utilisant des moyens dont le pouvoir de resolution est progressif avec le degre danalyse. considere.

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