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IEC/TS 62607-5-3-ed.1.0
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 5-3: Thin-film organic/nano electronic devices – Measurements of charge carrier concentration
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NORM herausgegeben am 14.4.2020
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC/TS 62607-5-3-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 14.4.2020
SKU: NS-992330
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC/TS 62607-5-3-ed.1.0 :
IEC TS 62607-5-3:2020 specifies sample structures for evaluating a wide range of charge carrier concentration in organic/nano materials. This specification is provided for both capacitance-voltage (C-V) measurements in metal/insulator/semiconductor stacking structures and Hall-effect measurements with the van der Pauw configuration. Criteria for choosing measurement methods of charge carrier concentration in organic semiconductor layers are also given in this document.
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