IEC/TS 62607-6-16-ed.1.0

Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-16: Two-dimensional materials - Carrier concentration: Field effect transistor method

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NORM herausgegeben am 17.11.2022

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEC/TS 62607-6-16-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 17.11.2022
SKU: NS-1092139
Zahl der Seiten: 23
Gewicht ca.: 69 g (0.15 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC

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Physics. Chemistry

Die Annotation des Normtextes IEC/TS 62607-6-16-ed.1.0 :

IEC TS 62607:2022 establishes a standardized method to determine the key control characteristic

carrier concentration

for semiconducting two-dimensional materials by the

field effect transistor (FET) method.

For semiconducting two-dimensional materials, the carrier concentration is evaluated using a field effect transistor (FET) test by a measurement of the voltage shift obtained from transfer curve upon doping process. The FET test structure consists of three terminals of source, drain, and gate where voltage is applied to induce the transistor action. Transfer curves are obtained by measuring drain current while applying varied gate voltage and constant drain voltage with respect to the source which is grounded.

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