Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC/TS 62607-8-3-ed.1.0
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 8-3: Nano-enabled metal-oxide interfacial devices - Analogue resistance change and resistance fluctuation: Electrical resistance measurement
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 20.10.2023
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC/TS 62607-8-3-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 20.10.2023
SKU: NS-1157987
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes IEC/TS 62607-8-3-ed.1.0 :
IEC TS 62607-8-3:2023 This part of IEC 62607, which is a Technical Specification, specifies a measurement protocol to determine the key control characteristics - analogue resistance change, and - resistance fluctuation for nano-enabled metal-oxide interfacial devices by - electrical resistance measurement. Analogue resistance change as a function of applied voltage pulse is measured in metal-oxide interfacial devices. The linearity in the relationship of the variation of conductance and the pulse number is evaluated using the parameter fitting. The parameter of the resistance fluctuation is simultaneously computed in the fitting process. - This method is applicable for evaluating computing devices composed of the metal-oxide interfacial device, for example, product-sum circuits, which record the learning process as the analogue resistance change.
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
