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IEC/TS 62607-9-1-ed.1.0
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 9-1: Traceable spatially resolved nano-scale stray magnetic field measurements - Magnetic force microscopy
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NORM herausgegeben am 14.10.2021
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC/TS 62607-9-1-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 14.10.2021
SKU: NS-1041433
Zahl der Seiten: 63
Gewicht ca.: 189 g (0.42 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC/TS 62607-9-1-ed.1.0 :
IEC TS 62607-9-1:2021(E) establishes a standardized method to characterize spatially varying magnetic fields with a spatial resolution down to 10 nm for flat magnetic specimens by magnetic force microscopy (MFM). MFM primarily detects the stray field component perpendicular to the sample surface. The resolution is achieved by the calibration of the MFM tip using magnetically nanostructured reference materials.
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