Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC/TS 62876-3-2-ed.1.0
Nanomanufacturing - Reliability and durability assessment - Part 3-2: Graphene - Ellipsometry measurement of graphene
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 27.4.2026
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC/TS 62876-3-2-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 27.4.2026
SKU: NS-1268802
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes IEC/TS 62876-3-2-ed.1.0 :
IEC TS 62876-3-2:2026 which is a Technical Specification, establishes a standardized method to determine • volume fraction for graphene by • ellipsometry. Thickness/composition measurements are evaluated by ellipsometry before and after the stability test. By model calculation, the volume fraction of graphene can be evaluated. Since the test method is non-destructive, it can be used to assess the reliability and durability of graphene films on production lines. • For graphene-capped copper for Cu interconnects in a semiconductor engineering, for example, the reliability and durability of the capping layer are evaluated. • Gas sensors, gas barriers, transparent electrodes for solar cells, etc. are being researched and developed. • This method is useful for non-destructive and quantitative evaluation of the volume fraction of graphene to assess the reliability and durability.
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
