Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC/TS 62876-3-4-ed.1.0
Nanomanufacturing - Reliability assessment - Part 3-4: Linearity of output characteristics for metal contacted 2D semiconductor devices
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 16.12.2025
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC/TS 62876-3-4-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 16.12.2025
SKU: NS-1253471
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes IEC/TS 62876-3-4-ed.1.0 :
IEC TS 62876-3-4:2025, which is a Technical Specification, establishes a standardized guideline to assess • reliability of metallic interfaces of Ohmic-contacted field-effect transistors (FETs) using 2D nano-materials by quantifying • linearity of current-voltage (I-V) output curves for devices with various materials combinations of van der Waals (vdW) interfaces. For metallic interfaces with 2D materials (eg. graphene, MoS2, MoTe2, WS2, WSe2, etc) and metals (eg. Ti, Cr, Au, Pd, In, Sb, etc), the reliability of Ohmic contact is quantified. For FETs consisting of 2D materials-based channels (eg. MoS2, MoTe2, WS2, WSe2, etc), the reliability of Ohmic contact when varying contacting metal, channel length, channel thickness, applied voltage, and surface treatment condition is quantified. The reliability of the metallic contacts is quantified from the linearity of I-V characteristics measured over extended time periods.
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
