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IEEE 1505.1-2008
IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
Automatische name übersetzung:
IEEE-Standard für die gemeinsame Test-Schnittstelle Pin Map-Konfiguration für High-Density, Single-Tier-Electronics Prüfanforderungen Verwendung IEEE Std 1505
NORM herausgegeben am 1.8.2013
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEEE 1505.1-2008
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2013
SKU: NS-415872
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE
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