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IEEE 1620-2008
IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
Automatische name übersetzung:
IEEE-Norm für Testmethoden für die Charakterisierung von organischen Transistoren und Materialien
NORM herausgegeben am 5.12.2008
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEEE 1620-2008
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 5.12.2008
SKU: NS-416000
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE
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