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IEEE 2427-2025
IEEE Standard for Analog Defect Modeling and Coverage
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NORM herausgegeben am 9.1.2026
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEEE 2427-2025
Ausgabedatum normen: 9.1.2026
SKU: NS-1254047
Zahl der Seiten: 112
Gewicht ca.: 367 g (0.81 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE
Die Annotation des Normtextes IEEE 2427-2025 :
New IEEE Standard - Active.
A defect coverage accounting method based on simulation models for defects observed within integrated circuits (ICs) is defined in this standard. The portion of a defect universe, comprising thousands or millions of reasonably likely defects, that is detected or “covered” by tests of analog and mixed-signal circuits depends on many factors, which this standard considers, such as detectability, process variations, defect characteristics, and redundancy. The contents of a defect coverage summary are specified and dozens of commonly used terms are clearly defined to aid communication about the quality of tested ICs.
ISBN: 979-8-8557-2362-5, 979-8-8557-2776-0, 979-8-8557-2777-7
Number of Pages: 112
Product Code: STDAPE28057, STD28383, STDPD28383
Keywords: AMS test, analog/mixed-signal test, analog test coverage, defect coverage, defective parts per million, design for test, DFT, DPPM, IEEE 2427(TM)
Category: Test Instrumentation and Techniques|Test Technology
Draft Number: P2427/D0.42, June 2025 - APPROVED DRAFT
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