UNGÜLTIG IEEE 256-1963 20.12.1963 Ansicht

IEEE 256-1963

IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes

Automatische name übersetzung:

IEEE-Testverfahren für Halbleiterdioden



NORM herausgegeben am 20.12.1963


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis47.70 ohne MWS
47.70

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: IEEE 256-1963
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 20.12.1963
SKU: NS-625078
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE



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