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IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes
Automatische name übersetzung:
IEEE-Testverfahren für Halbleiterdioden
NORM herausgegeben am 20.12.1963
Bezeichnung normen: IEEE 256-1963
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 20.12.1963
SKU: NS-625078
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE
Letzte Aktualisierung: 2025-09-21 (Zahl der Positionen: 2 235 431)
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