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USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)
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NORM herausgegeben am 30.11.1968
Bezeichnung normen: IEEE 300-1969
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.11.1968
SKU: NS-936221
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE
Letzte Aktualisierung: 2025-12-29 (Zahl der Positionen: 2 253 390)
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