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IEEE 300-1988
IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
Automatische name übersetzung:
IEEE-Standard Testverfahren für die Halbleiter geladene Teilchen-Detektoren
NORM herausgegeben am 29.12.1988
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEEE 300-1988
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 29.12.1988
SKU: NS-416270
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE
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