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IEEE/IEC 62527-2007
IEC 62527 Ed. 1 (IEEE Std 1450.2(TM)-2002): Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for DC Level Specification
Automatische name übersetzung:
IEC 62527 Ed. 1 (IEEE Std 1.450,2 (TM) -2002): Standard für Erweiterungen zu Standard Test Interface Language (STIL) für DC-Ebene Spezifikation
NORM herausgegeben am 9.12.2007
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEEE/IEC 62527-2007
Ausgabedatum normen: 9.12.2007
SKU: NS-415152
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEEE
Die Annotation des Normtextes IEEE/IEC 62527-2007 :
New IEEE Standard - Active.
This standard extends IEEE Std 1450-1999 (STIL) to support the definition of DC levels. STIL language constructs are defined to specify the DC conditions necessary to execute digital vectors on automated test equipment (ATE). STIL language extensions include structures for: (a) specifying the DC conditions for a device under test; (b) specifying DC conditions either globally, by pattern burst, by pattern, or by vector; (c) specifying alternate DC levels; and (d) selecting DC levels and alternate levels within a period, much the same as timed format events.
ISBN: 9-7807-3815-7238
Number of Pages: 44
Product Code: STDSU95742
Keywords: : automated test equipment (ATE), comparator, DC levels, device power supply (DPS), device under test (DUT), driver, driver termination, dynamic load, functional test, parametric measurement unit (PMU), power sequence, slew rate, voltage clamp
Category: Test Instrumentation and Techniques
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