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ISO 13424:2013
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of results of thin-film analysis
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektroskopie - Bericht über die Ergebnisse der Dünnschichtanalyse
NORM herausgegeben am 23.9.2013
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO 13424:2013
Ausgabedatum normen: 23.9.2013
SKU: NS-424657
Zahl der Seiten: 46
Gewicht ca.: 138 g (0.30 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
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Die Annotation des Normtextes ISO 13424:2013 :
Description / Abstract: ISO 13424:2013 specifies the minimum amount of information required in reports of analyses of thin films on a substrate by XPS. These analyses involve measurement of the chemical composition and thickness of homogeneous thin films, and measurement of the chemical composition as a function of depth of inhomogeneous thin films by angle-resolved XPS, XPS sputter-depth profiling, peak-shape analysis, and variable photon energy XPS.
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