Die Norm ISO 14237:2010-ed.2.0 9.7.2010 Ansicht

ISO 14237:2010-ed.2.0

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials

Automatische name übersetzung:

Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Bestimmung von Bor Atomkonzentration im Silizium mit gleichmäßig dotierten Materialien



NORM herausgegeben am 9.7.2010


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis176.30 ohne MWS
176.30

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ISO 14237:2010-ed.2.0
Ausgabedatum normen: 9.7.2010
SKU: NS-425290
Zahl der Seiten: 19
Gewicht ca.: 57 g (0.13 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO

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Chemical analysis



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