Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Bestimmung von Bor Atomkonzentration im Silizium mit gleichmäßig dotierten Materialien
NORM herausgegeben am 9.7.2010
Bezeichnung normen: ISO 14237:2010-ed.2.0
Ausgabedatum normen: 9.7.2010
SKU: NS-425290
Zahl der Seiten: 19
Gewicht ca.: 57 g (0.13 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
Letzte Aktualisierung: 2026-04-19 (Zahl der Positionen: 2 274 482)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.