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ISO 14706:2014-ed.2.0
Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse - Bestimmung der Oberflächenelementar Kontamination auf Silizium-Wafern durch Totalreflexion Röntgenfluoreszenz (TXRF) -Spektroskopie
NORM herausgegeben am 25.7.2014
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO 14706:2014-ed.2.0
Ausgabedatum normen: 25.7.2014
SKU: NS-425696
Zahl der Seiten: 25
Gewicht ca.: 75 g (0.17 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
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