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ISO 16413:2020-ed.2.0
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
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NORM herausgegeben am 14.8.2020
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO 16413:2020-ed.2.0
Ausgabedatum normen: 14.8.2020
SKU: NS-1001977
Zahl der Seiten: 32
Gewicht ca.: 96 g (0.21 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
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