Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 18.7.2016
Bezeichnung normen: ISO 16700:2016-ed.2.0
Ausgabedatum normen: 18.7.2016
SKU: NS-645558
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
Description / Abstract: ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
Letzte Aktualisierung: 2024-04-26 (Zahl der Positionen: 2 896 057)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.