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ISO 17297:2025
Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
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NORM herausgegeben am 26.5.2025
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO 17297:2025
Ausgabedatum normen: 26.5.2025
SKU: NS-1222521
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
Kategorie - ähnliche Normen:
Chemical technology (Vocabularies)Physicochemical methods of analysis
Die Annotation des Normtextes ISO 17297:2025 :
Description / Abstract: This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).
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