Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ISO 20263:2024-ed.2.0
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 6.11.2024
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO 20263:2024-ed.2.0
Ausgabedatum normen: 6.11.2024
SKU: NS-1204588
Zahl der Seiten: 47
Gewicht ca.: 141 g (0.31 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ISO 20263:2024-ed.2.0 :
Description / Abstract: This document specifies a procedure for the determination of the averaged interface position between two different layered materials recorded in the cross-sectional image of the multi-layered material. This document does not apply for determining the simulated interface of the multi-layered materials expected through the multi-slice simulation (MSS) method. This document is applicable to the cross-sectional images of multi-layered materials recorded using a transmission electron microscope (TEM) or a scanning transmission electron microscope (STEM) and cross-sectional elemental mapping images using an energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) or an electron energy loss spectrometer (EELS). This document is also applicable to digitized images recorded on an image sensor built into a digital camera, a digital memory set in the PC or an imaging plate, where the digitalized image is obtained by converting an analogue image recorded on photographic film using an image scanner.
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
