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ISO 21222:2020
Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
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NORM herausgegeben am 29.1.2020
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO 21222:2020
Ausgabedatum normen: 29.1.2020
SKU: NS-982703
Zahl der Seiten: 17
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
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Die Annotation des Normtextes ISO 21222:2020 :
Description / Abstract: This document describes a procedure for the determination of elastic modulus for compliant materials using atomic force microscope (AFM). Force-distance curves on the surface of compliant materials are measured and the analysis uses a two-point method based on Johnson-Kendall-Roberts (JKR) theory. This document is applicable to compliant materials with elastic moduli ranging from 100 kPa to 1 GPa. The spatial resolution is dependent on the contact radius between the AFM probe and the surface and is typically approximately10-20 nm.
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