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Surface chemical analysis — X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers — Linearity of intensity scale
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse - Röntgen-Photoelektronen und Auger-Elektronen-Spektrometer - Linearität der Intensitätsskala
NORM herausgegeben am 15.6.2004
Bezeichnung normen: ISO 21270:2004
Ausgabedatum normen: 15.6.2004
SKU: NS-428966
Zahl der Seiten: 13
Gewicht ca.: 39 g (0.09 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
Description / Abstract: ISO 21270:2004 specifies two methods for determining the maximum count rate for an acceptable limit of divergence from linearity of the intensity scale of Auger and X-ray photoelectron spectrometers. It also includes methods to correct for intensity non-linearities so that a higher maximum count rate can be employed for those spectrometers for which the relevant correction equations have been shown to be valid.
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Letzte Aktualisierung: 2026-06-16 (Zahl der Positionen: 2 283 267)
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