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ISO 23812:2009
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Verfahren zur Tiefenkalibrierung für Silizium mit mehreren Delta-Schicht Referenzmaterialien
NORM herausgegeben am 8.4.2009
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO 23812:2009
Ausgabedatum normen: 8.4.2009
SKU: NS-429743
Zahl der Seiten: 19
Gewicht ca.: 57 g (0.13 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
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