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ISO 23830:2008
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Reproduzierbarkeit und Konstanz der relativen Intensitätsskala in statischen Sekundärionen-Massenspektrometrie
NORM herausgegeben am 5.11.2008
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO 23830:2008
Ausgabedatum normen: 5.11.2008
SKU: NS-429755
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
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