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ISO 24688:2022
Determination of modulation period of nano-multilayer coatings by low-angle X-ray methods
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NORM herausgegeben am 22.7.2022
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO 24688:2022
Ausgabedatum normen: 22.7.2022
SKU: NS-1069283
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
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Die Annotation des Normtextes ISO 24688:2022 :
Description / Abstract: This document specifies the substrate conditions and testing of the modulation period (including the principles for low-angle X-ray methods, the requirements of the coatings, the requirements for X-ray measuring apparatus, the calibration of apparatus and samples, and the testing conditions and calculation process) of nano-multilayer coatings by low-angle X-ray methods including X-ray reflectivity (XRR) and glancing incident X-ray diffraction (GIXRD).
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