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ISO 29301:2023-ed.3.0
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures
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NORM herausgegeben am 16.10.2023
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO 29301:2023-ed.3.0
Ausgabedatum normen: 16.10.2023
SKU: NS-1156139
Zahl der Seiten: 44
Gewicht ca.: 132 g (0.29 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
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Die Annotation des Normtextes ISO 29301:2023-ed.3.0 :
Description / Abstract: This document specifies a calibration procedure applicable to images recorded over a wide magnification range in a transmission electron microscope (TEM). The reference materials used for calibration possess a periodic structure, such as a diffraction grating replica, a super-lattice structure of semiconductor or an analysing crystal for X-ray analysis, and a crystal lattice image of carbon, gold or silicon. This document is applicable to the magnification of the TEM image recorded on a photographic film, or an imaging plate, or detected by an image sensor built into a digital camera. This document also refers to the calibration of a scale bar. This document does not apply to the dedicated critical dimension measurement TEM (CD-TEM) and the scanning transmission electron microscope (STEM).
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