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ISO/TR 22335:2007
Surface chemical analysis — Depth profiling — Measurement of sputtering rate: mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer
Automatische name übersetzung:
Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilerstellung - Messung der Sputterrate: Mesh-Abdruckverfahren mit einem mechanischen Stylusprofilometer
NORM herausgegeben am 2.7.2007
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ISO/TR 22335:2007
Ausgabedatum normen: 2.7.2007
SKU: NS-420854
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen ISO
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