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JIS C2170:2004
Electrostatics -- Methods of test for determining the resistance and resistivity of solid planar materials used to avoid electrostatic charge accumulation
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NORM herausgegeben am 20.3.2004
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: JIS C2170:2004
Ausgabedatum normen: 20.3.2004
SKU: NS-1075016
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Japanischer technischer Norm
Kategorie: Technische Normen JIS
Kategorie - ähnliche Normen:
Other standards related to electricity and magnetismElectrical engineering in general
Die Annotation des Normtextes JIS C2170:2004 :
English Errata (201101) Japanese Errata (201012)
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