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JIS C5630-12:2014
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
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NORM herausgegeben am 20.2.2014
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: JIS C5630-12:2014
Ausgabedatum normen: 20.2.2014
SKU: NS-1075552
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Japanischer technischer Norm
Kategorie: Technische Normen JIS
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