Die Norm JIS C5630-26:2017 20.10.2017 Ansicht

JIS C5630-26:2017

Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures

Name übersetzen

NORM herausgegeben am 20.10.2017


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
PreisAUFANFRAGE ohne MWS
AUF ANFRAGE

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: JIS C5630-26:2017
Ausgabedatum normen: 20.10.2017
SKU: NS-1075558
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Japanischer technischer Norm
Kategorie: Technische Normen JIS

Kategorie - ähnliche Normen:

Other semiconductor devices



Cookies Cookies

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.

Sie können die Zustimmung verweigern hier.

Hier können Sie Ihre Cookie-Einstellungen nach Ihren Wünschen anpassen.

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können.