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JIS H0609:1999
Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques
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NORM herausgegeben am 29.2.2000
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: JIS H0609:1999
Ausgabedatum normen: 29.2.2000
SKU: NS-1078239
Zahl der Seiten: 17
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Japanischer technischer Norm
Kategorie: Technische Normen JIS
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Integrated circuits. MicroelectronicsOther non-ferrous metals and their alloys
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