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Test method for low substitutional atomic carbon content of single crystal silicon by Fourier transform infrared absorption spectroscopy at room temperature
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NORM herausgegeben am 21.3.2024
| Sprache | |
| Realisierung |
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| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: JIS H0616:2024
Ausgabedatum normen: 21.3.2024
SKU: NS-1183407
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Japanischer technischer Norm
Kategorie: Technische Normen JIS
Semiconducting materialsNon-metalliferous mineralsOther non-ferrous metals and their alloys
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Letzte Aktualisierung: 2026-08-19 (Zahl der Positionen: 2 298 207)
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