Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
JIS H0617:2024
Test method for determination of low carbon impurity concentration in silicon single crystals by photoluminescence spectroscopy
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 21.3.2024
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: JIS H0617:2024
Ausgabedatum normen: 21.3.2024
SKU: NS-1183408
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Japanischer technischer Norm
Kategorie: Technische Normen JIS
Kategorie - ähnliche Normen:
Semiconducting materialsNon-metalliferous mineralsOther non-ferrous metals and their alloys
Empfehlungen:
Aktualisierung der Gesetze
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Vorschriften verwenden?
Wir bieten Ihnen Lösungen, damit Sie immer nur die gültigen (aktuellen) legislativen Vorschriften verwenden könnten.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
