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JIS K0160:2009
Surface chemical analysis -- Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
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NORM herausgegeben am 20.7.2009
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: JIS K0160:2009
Ausgabedatum normen: 20.7.2009
SKU: NS-1078726
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Japanischer technischer Norm
Kategorie: Technische Normen JIS
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