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JIS K0164:2023
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon
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NORM herausgegeben am 20.2.2023
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: JIS K0164:2023
Ausgabedatum normen: 20.2.2023
SKU: NS-1139233
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Japanischer technischer Norm
Kategorie: Technische Normen JIS
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