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JIS K0169:2012
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) -- Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
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NORM herausgegeben am 20.4.2012
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: JIS K0169:2012
Ausgabedatum normen: 20.4.2012
SKU: NS-1078735
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Japanischer technischer Norm
Kategorie: Technische Normen JIS
