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JIS R1636:1998
Test method for thickness of fine ceramic thin films -- Film thickness by contact probe profilometer
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NORM herausgegeben am 31.1.1998
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: JIS R1636:1998
Ausgabedatum normen: 31.1.1998
SKU: NS-1081250
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Japanischer technischer Norm
Kategorie: Technische Normen JIS
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