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JIS R1637:1998
Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array
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NORM herausgegeben am 31.1.1998
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: JIS R1637:1998
Ausgabedatum normen: 31.1.1998
SKU: NS-1081251
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Japanischer technischer Norm
Kategorie: Technische Normen JIS
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