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STN 358751 (358751)
Measurement of semiconductor devices. Transistors. Measurement of short circuit input admittance in common base circuit at higher frequencies
Automatische name übersetzung:
Messung von Halbleiterbauelementen. Transistoren. Messung der Eingangsadmittanz Diagramm in einem gemeinsamen Basis bei höheren Frequenzen.
NORM herausgegeben am 1.3.1970
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN 358751
Zeichen: 358751
Katalog-Nummer: 59270
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.3.1970
SKU: NS-495890
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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